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    ZDS5054A電源分析型示波器

    在節(jié)能減排的時代背景下,從毫瓦級到兆瓦級的開關(guān)電源產(chǎn)品,都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展,對于開關(guān)器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。ZDS5054A電源分析型示波器,針對電源白盒測試開發(fā)了電源分析、環(huán)路分析、電源通信協(xié)議解碼等功能,幫助工程師快速設(shè)計高效率、高可靠的電源。

    ZDS5054A電源分析型示波器

    產(chǎn)品概述

    ZDS5054A電源分析型示波器

    在節(jié)能減排的時代背景下,從毫瓦級到兆瓦級的開關(guān)電源產(chǎn)品,都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展,對于開關(guān)器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。ZDS5054A電源分析型示波器,針對電源白盒測試開發(fā)了電源分析、環(huán)路分析、電源通信協(xié)議解碼等功能,幫助工程師快速設(shè)計高效率、高可靠的電源。

    型號帶寬通道數(shù)最高采樣率最高波形刷新率最大存儲深度內(nèi)置信號源
    ZDS5054Pro 500MHz44GSa/s1Mwfms/s512Mpts2ch
    ZDS5054D 500MHz44GSa/s600kwfms/s512Mpts2ch
    ZDS5054A 500MHz44GSa/s330kwfms/s250Mpts2ch


    電源分析:助力電源信號完整性分析

    ZDS5054A電源分析功能涵蓋了輸入輸出特性測試,MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析,調(diào)制波形測試等功能,全方位評測電源可靠性。

    MOSFET開關(guān)損耗精準(zhǔn)量化

    功率MOSFET開關(guān)損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點,由于SPWM每個周期的開關(guān)損耗都不相同,傳統(tǒng)通過手光標(biāo)和數(shù)學(xué)運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。ZDS5054A示波器標(biāo)配250Mpts存儲深度,可捕獲多個完整調(diào)制周期SPWM波形,自動統(tǒng)計各開關(guān)周期的開通/關(guān)斷/導(dǎo)通損耗,計算最大值、最小值、平均值,準(zhǔn)確量化開關(guān)器件的功率損耗。

    SOA測試:有效保障MOSFET工作安全

    功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區(qū),會導(dǎo)致器件損壞、爆炸的風(fēng)險陡增,常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進(jìn)行全面評估。SOA 安全工作區(qū)分析功能,可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率,便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。

    環(huán)路分析:快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性

    穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關(guān)電源來說是非常重要的,如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度,電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負(fù)反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應(yīng)曲線,通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量,可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。

    內(nèi)置雙通道AFG信號發(fā)生器

    內(nèi)置函數(shù)信號發(fā)生器,支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信號輸出,頻率高達(dá)30MHz,可以自動掃描電源控制環(huán)路伯德圖,自動顯示相位裕度和增益裕度等參數(shù),幫助工程師快速進(jìn)行環(huán)路分析,加快調(diào)試效率。

    行業(yè)應(yīng)用


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    解決方案
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